AD模拟量输入
|
ADC分辨率
|
16位(Bit)
|
输入通道
|
8路差分
|
|
输入量程
|
±10V、±5V、0~10V、0~5V
|
|
过压保护
|
±12V
|
|
校准方式
|
软件自动校准
|
|
采样率
|
单通道高达750KS/s
多通道高达750KS/s
|
|
采样方式
|
同步采样
|
|
耦合方式
|
直流耦合
|
|
触发模式
|
中间触发、后触发、预触发、硬件延时触发
|
|
触发源
|
软件触发、ATR触发、DTR触发
|
|
触发方向
|
负向触发、正向触发、正负向触发
|
|
触发电平
|
-10V~10V
|
|
触发源输入范围
|
ATR输入范围:-10V~10V
DTR输入范围:标准TTL电平
|
|
程控增益
|
默认1、2、4、8倍
|
|
输入阻抗
|
10MΩ
|
|
非线性误差
|
±1.5LSB(max)
|
|
增益误差
|
10 ppm/°C(G = 8)
|
|
外时钟输入范围
|
<= 750KHz,TTL电平信号
|
|
数据读取与存储
|
通道切换方式
|
8通道8芯片独立工作
|
数据读取方式
|
USB 2.0
|
|
存储器深度
|
64M字DDR2存储器
|
|
每通道存储深度
|
8M字 |
AD模拟量输入
|
ADC分辨率
|
16位(Bit)
|
输入通道
|
8路差分
|
|
输入量程
|
±10V、±5V、0~10V、0~5V
|
|
过压保护
|
±12V
|
|
校准方式
|
软件自动校准
|
|
采样率
|
单通道高达750KS/s
多通道高达750KS/s
|
|
采样方式
|
同步采样
|
|
耦合方式
|
直流耦合
|
|
触发模式
|
中间触发、后触发、预触发、硬件延时触发
|
|
触发源
|
软件触发、ATR触发、DTR触发
|
|
触发方向
|
负向触发、正向触发、正负向触发
|
|
触发电平
|
-10V~10V
|
|
触发源输入范围
|
ATR输入范围:-10V~10V
DTR输入范围:标准TTL电平
|
|
程控增益
|
默认1、2、4、8倍
|
|
输入阻抗
|
10MΩ
|
|
非线性误差
|
±1.5LSB(max)
|
|
增益误差
|
10 ppm/°C(G = 8)
|
|
外时钟输入范围
|
<= 750KHz,TTL电平信号
|
|
数据读取与存储
|
通道切换方式
|
8通道8芯片独立工作
|
数据读取方式
|
USB 2.0
|
|
存储器深度
|
64M字DDR2存储器
|
|
每通道存储深度
|
8M字 |