光学表面轮廓仪检测物体表面粗糙度

中图仪器 光学表面轮廓仪检测 SuperViewW1能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等领域。是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

光学表面轮廓仪检测采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。

结果组成：

1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；

2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；

3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；

4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；

5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；

6、微电子表面分析和MEMS表征。

主要应用领域：

1、用于太阳能电池测量；

2、用于半导体晶圆测量；

3、用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量；

4、用于机械部件的计量；

5、用于塑料，金属和其他复合型材料工件的测量。

SuperViewW1光学表面轮廓仪检测非接触高精密测量方式，不会划伤甚至破坏工件，而且测量速度快，不必像探头逐点进行测量。对高深宽比的沟槽结构，可以快速而准确的得到理想的测量结果。