德州仪器首推4MB快闪记忆体装置应对恶劣环境

（TI）宣佈推出满足恶劣环境的业界首款高温非挥发性快闪记忆体装置，该SM28VLT32-HT具有4MB工作容量，毋需耗费昂贵成本再对工业级元件进行产品资料表规格以外的筛选（up-screening）与认证测试。该装置不但可在极端温度下实现资料记录，还可确保在如油气探勘、重工业以及航空等恶劣环境应用中至少工作1000小时。

　　SM28VLT32-HT主要特性与优势：

　　1、最宽泛温度範围：唯一可在-55C至+210C温度範围内工作的非挥发性快闪记忆体装置；

　　2、高可靠度：经过测试可在装置整体工作寿命内，于整个温度範围下实现稳健的读／写操作；

　　3、更短设计时间：无需外部组件，可帮助製造商快速安全地开发各种可符合恶劣环境的应用，将开发、测试与认证时间缩短6个月；

　　4、小型增强型封装：SM28VLT32-HT可採用陶瓷扁平封装（ceramicflatpack）或已知良品晶圆（KnownGoodDie;KGD）封装，允许在多晶片模组中整合小型封装，充分满足电路板空间有限的系统需求；

　　5、串列介面：SPI介面可简化设计与封装，减少接脚数。

　　採用8mmx25mm陶瓷扁平封装的SM28VLT32-HT现已开始提供样品，将于2013年第1季提供KGD封装选项，并投入量産。

　　HTFLASHEVM评估模组内建于增强型电路板，可在更高温度下实现更简易的评估，该评估模组现已开始提供。

　　SM28VLT32-HT可对TI全系列类比及嵌入式处理産品形成有力互补，充分满足SM470R1B1M-HTARM7TDMI微控制器与SM320F28335-HTDelfino数位讯号控制器等高温、高可靠度应用需求。