安捷伦将在DesignCon上展示比特误码率测试仪

网2013年2月1日消息，安捷伦科技公司日前宣布将在 DesignCon 上展示具有快速上升时间和高输出 幅度的32-Gb/s 比特误码率 测试仪（展位 201）。本届展会于1月29日至30日在圣克拉拉会议中心举行。

中心基础设施的建设进入了新的阶段，它不仅支持云计算、大数据和分析，同时也是推动新型高速数据传输标准（例如 100-Gb 以太网和 32-Gb 光纤通道）开发的动力之一。高传输速度使光学和电气元器件设计人员面临着新的测试挑战。元器件表征必须满足更严苛的要求，意味着设计人员需要更快的上升/下降时间。光收发信机和发射机光组件（TOSA）要求使用更高的驱动电压，然而标准码型发生器的输出却无法提供。

，以用于要求更高数据速率的应用（包括100-Gb 以太网和OIF-CEI-28G），而无需使用外部驱动放大器以及相关的互连电缆和电源。

　　安捷伦副总裁兼数字光学测试部总经理 Jürgen Beck 表示："在广泛的 BERT 解决方案中，安捷伦面向研发、验证和制造领域中的应用提供新的选择。每一款安捷伦 BERT 均提供精确、可重复的测试结果，能够帮助工程师精确地表征仪器性能，同时确保仪器符合行业标准。我们业已改进了32-Gb/s N4960A 串行 BERT 系列的上升/下降时间，从而为高速元器件设计人员提供所需的信号保真度和设计余量，以进行下一代器件测试。"

　　作为 N4960A BERT 系列的成员，新型码型发生器经过配置后，可通过电缆将测试前端连接到 BERT 控制器。在该配置下，设计人员可将码型发生器置于被测器件附近，尽可能地缩短信号电缆的长度，从而最大程度地避免信号劣化。