2012年4月-美国国家仪器公司(NationalInstruments,简称NI)近日发布了NIPXIe-8115高性能嵌入式
控制器,配备了最新的Intel?第二代Core?i5双核处理器,能够缩短测试时间,是多核应用程序的理想选择。NIPXIe-8115控制器具有多种外设I/O端口以及6个行业领先的USB2.0端口。这些板载外设端口最大限度地减少了外部适配器的个数,帮助工程师搭建符合成本效益的混合系统。NIPXIe-8115嵌入式控制器的In-ROM和硬盘驱动诊断功能能够判定控制器的健康状况,从而提高操作性能,并最大限度地减少系统停工时间。将控制器与NILabVIEW系统设计软件结合,工程师可在各类测试、测量和控制应用中提升开发效率。
IntelCorei5-2510E处理器为NIPXIe-8115控制器提供了2.5GHz的基本时钟频率,并采用IntelTurboBoost技术,基于应用类型自动增加时钟频率。举例来说,当运行只生成单处理线程的应用程序时,CPU会将一个未使用的内核置于空闲状态,并将活动内核的时钟频率从2.5GHz提高至3.1GHz。这样,无需多线程的软件应用程序,就能采用最新的CPU。它既可在双核、也可在高性能的单核模式下操作,这种灵活性使得控制器可适用于各种应用,包括高性能的自动化测试和工业控制。
除了高性能的CPU以外,NIPXIe-8115控制器还配备了6个USB2.0端口、2个可连接多台显示器的显示端口、双千兆以太网、GPIB、串行和并行端口。有了丰富的外设I/O,用户就无需再购买单个PXI
模块。PXI机箱中的插槽支持测量模块而不是标准I/O,因此工程师可以优化使用它们。对于占用较大内存的应用程序,控制器还标配了2GB1333MHzDDR3内存,最高可扩展至8GB并支持Windows764位操作系统。NIPXIe-8115控制器结合NIPXIe-1082机箱,使其能够适用于深层分析、信号和图象处理以及高速数据采集。
为了提高PXI系统的稳定性,NIPXIe-8115控制器配备了In-ROM和硬盘驱动诊断功能,确保实现PXI嵌入式控制器的操作性能。有了这项新功能,工程师们就无需再使用第三方工具来确定内存和硬盘的健康状况。全新的NIPXIe-8115将诊断分析功能与NI备用硬盘驱动和内存相结合,提高了操作性能,从而减少了停工时间,并确保给应用程序带来最小的影响。
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